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EOS防護技術(shù)課程

課程大綱：
第一部分：EOS及ESD基礎(chǔ)知識
1.前言及EOS的歷史
2.簡介
3.對EOS的傳統(tǒng)看法
4.工業(yè)委員會全球調(diào)查介紹
5.什么是EOS
6.EOS的來源
6.1ESD
6.2電源
7.什么是靜電
8.靜電的產(chǎn)生原理（模擬試驗機演示）
9.什么是ESD
10.ESD與EOS的關(guān)系
11.EOS與ESD失效比較
12.EOS與ESD的常規(guī)區(qū)別
13.EOS主要類別
14.EOS根本原因
15.EOS根本原因診斷
16.案例1：錯誤的ESD資格導致EOS
17.案例2：EOS被誤用

第二部分：EOS分析技術(shù)
1.常用術(shù)語和定義
2.工廠和現(xiàn)場的EOS損壞
3.顯示EOS損壞的故障的現(xiàn)場返回分析的動機
4.瞬變
5.用于收集EOS損壞數(shù)據(jù)的EOS調(diào)查
5.1調(diào)查表和描述-調(diào)查是如何進行的？
5.2EOS調(diào)查結(jié)果
5.3EOS故障原因進行歸類
5.4EOS故障通常發(fā)生在哪里？
5.5其他報告的EOS原因
5.6診斷、降低EOS的重要性和故障報告
5.7最小化EOS問題的最有效方法是什么？
5.8報告的前4個EOS根本原因和置信度
6.EOS損壞的影響
7.出現(xiàn)EOS損壞的產(chǎn)品的故障報告
8.EOS根本原因
9.無動力處理期間的EOS損壞
10.動力處理期間的EOS
10.1熱插拔相關(guān)
10.2系統(tǒng)級ESD相關(guān)EOS
11.案例3：熱插拔導致EOS
12.案例4：間歇性電池接地連接導致EOS
13.案例5：由于地面偏移導致的EOS

第三部分：電路EMI、EOS防護與靜電敏感元器件ESD、EOS的防護設(shè)計
1.微電子、電子電路的EMI、EOS問題
2.EMI、EOS涉及范圍
2.1EMI防護技術(shù)的主要內(nèi)容
2.2EOS防護技術(shù)的內(nèi)容
3.EMI、EOS對電子系統(tǒng)設(shè)備的干擾與微電子元器件的損害
3.1EMI對電子系統(tǒng)、微電子產(chǎn)生干擾和損害
3.2EOS對微電子的損害
4.ESD、EOS失效分析技術(shù)
4.1失效分析基本技術(shù)
4.2現(xiàn)代失效分析技術(shù)
5.EOS對電子系統(tǒng)、微電子元器件損害的防護
5.1電氣設(shè)備漏電及微電子電路過載的防護
5..2電氣系統(tǒng)、設(shè)備產(chǎn)生漏電原因及部位
5..3漏電源的修復
6.電子系統(tǒng)EMI的防護與抑制
6.1電感性負載的瞬態(tài)浪涌抑制
6.2電源電路的干擾抑制
6.3電路合理布局減小EMI影響
6.4電子系統(tǒng)接地EMI的抑制
7.金屬件接地的搭接
7.1搭接的類型
7.2搭接技術(shù)原則
8.案例6：EOS案例研究“汽車爆震傳感器”
9.案例7：EMI–瞬態(tài)浪涌
10.SSD產(chǎn)品的ESD、EOS防護設(shè)計
10.1SSD器件靜電敏感度與其設(shè)計結(jié)構(gòu)的關(guān)系
10.2常用的靜電放電保護器件
10.3SSD器件防靜電保護網(wǎng)絡設(shè)計時需注意的問題
10.4采用SSD的混合集成電路的保護電路設(shè)計注意事項
10.5SSD組件保護電路設(shè)計的注意事項
10.6電子SSD產(chǎn)品的防ESD、EOS增強設(shè)計
10.7常用的幾種保護電路
10.8HCMOS（高速CMOS）輸入端的保護結(jié)構(gòu)
11.案例8：EMI–電路板設(shè)計
12.導線、電纜傳輸線EMI、ESD耦合抑制
12.1雙股絞合線
12.2屏蔽線
12.3配線方法

第四部分：EOS案例分析
4.1案例9：電源電容器切換
4.2案例10：D*C中的CBE
4.3案例11：可靠性測試
4.4得到教訓
4.5EOS監(jiān)控清單

第五部分：課堂練習
5.1.ESD/EOS問題點詳解
5.2.異常圖片大家來找茬

第六部分：答疑
6.1EOS相關(guān)疑難問題點解答
6.2.常見問題答疑

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